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脈沖實驗，脈沖測試是一種能夠減少器件總能耗的測量技術。它通過減少焦耳熱效應(例如I2R和V2/R)，避免對小型納米器件可能造成的損壞。脈沖測試采用足夠高的電源對待測器件(DUT)施加間隔很短的脈沖，產(chǎn)生高品質(zhì)的可測信號，然后去掉信號源。
通過脈沖測試，工程技術人員可以獲得更多的器件信息，更準確地分析和掌握器件的行為特征。例如，利用脈沖測試技術可以對納米器件進行瞬態(tài)測試，確定其轉(zhuǎn)移函數(shù)，從而分析待測材料的特征。脈沖測試測量對于具有恒溫限制的器件也是必需的，例如SOI器件、FinFET和納米器件，可以避免自熱效應，防止自熱效應掩蓋研究人員所關心的響應特征。器件工程師還可以利用脈沖測試技術分析電荷俘獲效應。在晶體管開啟后電荷俘獲效應會降低漏極電流。隨著電荷逐漸被俘獲到柵介質(zhì)中，晶體管的閾值電壓由于柵電容內(nèi)建電壓的升高而增大;從而漏極電流就降低了。
脈沖測試為人們和研究納米材料、納米電子和目前的半導體器件提供了一種重要手段。
脈沖測試有兩種不同的類型:加電壓脈沖和加電流脈沖。
電壓脈沖測試產(chǎn)生的脈沖寬度比電流脈沖測試窄得多。這一特性使得電壓脈沖測試更適合于熱傳輸實驗，其中我們所關心的時間窗口只有幾百納秒。通過高精度的幅值和可編程的上升與下降時間能夠控制納米器件上的能耗大小。電壓脈沖測試可用于可靠性測試中的瞬態(tài)分析、電荷俘獲和交流應力測試，也可用于產(chǎn)生時鐘信號，模擬重復控制線，例如存儲器讀寫周期。
電流脈沖測試與電壓脈沖測試非常相似。其中，將指定的電流脈沖加載到DUT上，然后測量器件兩端產(chǎn)生的電壓。電流脈沖測試常用于測量較低的電阻，或者獲取器件的I-V特征曲線，而不會使DUT產(chǎn)生大量的能耗，避免對納米器件的損害或破壞。
脈沖:電壓(V)或電流(A)的波形象心電圖上的脈搏跳動的波形 但現(xiàn)在聽到的什么電源脈沖、聲脈沖……又作何解釋呢--脈沖的原意被延伸出來得: 隔一段相同的時間發(fā)出的波等機械形式，學術上把脈沖定義為:在短時間內(nèi)突變，隨后又迅速返回其初始值的物理量稱之為脈沖。

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